HAST試驗(yàn)機(jī)航空航天元器件測(cè)試設(shè)備驗(yàn)證關(guān)鍵電子設(shè)備在高溫高壓濕熱條件下的可靠性,滿足MIL與DO標(biāo)準(zhǔn);
| 型號(hào):HT-HAST-180L | 瀏覽量:104 |
| 更新時(shí)間:2026-01-07 | 是否能訂做:是 |
HAST試驗(yàn)箱通過(guò) “壓力飽和蒸汽 + 精準(zhǔn)溫濕控制 + 智能安全防護(hù)" 技術(shù)體系,將真實(shí)世界中數(shù)年甚至十年的濕熱老化過(guò)程,壓縮至幾天內(nèi)完成。它不僅幫助您提前發(fā)現(xiàn)潛在缺陷,更是在市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中為產(chǎn)品的長(zhǎng)期可靠性提供科學(xué)依據(jù)與信心保障。
半導(dǎo)體與集成電路:快速評(píng)估封裝密封性、內(nèi)部腐蝕、焊點(diǎn)可靠性,預(yù)防現(xiàn)場(chǎng)失效;
汽車(chē)電子:模擬高溫高濕發(fā)動(dòng)機(jī)艙環(huán)境,確保ECU、傳感器在嚴(yán)苛條件下的壽命;
航空航天與國(guó)防:驗(yàn)證關(guān)鍵電子設(shè)備在高溫高壓濕熱條件下的可靠性,滿足MIL與DO標(biāo)準(zhǔn);
光伏與新能源:測(cè)試接線盒、逆變器在潮濕熱帶氣候下的絕緣與耐久性能;
消費(fèi)電子:提前發(fā)現(xiàn)手機(jī)、穿戴設(shè)備在潮濕環(huán)境中的進(jìn)水、氧化風(fēng)險(xiǎn)。
核心技術(shù)參數(shù)
溫度范圍:+105℃ ~ +155℃(可選)
常用測(cè)試溫度:110℃, 130℃, 145℃
濕度范圍:50% ~ 95% RH(非飽和,可調(diào))
*部分型號(hào)支持65%-100%RH,可設(shè)定飽和模式*
壓力范圍:0.02 MPa ~ 0.6 MPa(表壓)
*約合0.2至6kg/cm2,滿足不同標(biāo)準(zhǔn)要求*
控制精度:溫度: ±0.5℃; 濕度: ±2.5% ~ ±3% RH
確保測(cè)試條件的嚴(yán)苛穩(wěn)定性和出色復(fù)現(xiàn)性
控制模式:支持干濕球控制、非飽和蒸汽、飽和蒸汽三種工作模式,適應(yīng)多樣化的測(cè)試方案需求。
遵循的核心標(biāo)準(zhǔn)
我們的設(shè)備設(shè)計(jì)與制造嚴(yán)格遵循國(guó)際及國(guó)內(nèi)主流可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),確保您的測(cè)試數(shù)據(jù)在地球范圍內(nèi)獲得廣泛認(rèn)可:
國(guó)際電工委員會(huì) (IEC):
IEC 60068-2-66 (試驗(yàn)Cx: 穩(wěn)態(tài)濕熱)
IEC 60749 (半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法)
固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì) (JEDEC):
JESD22-A110 (高加速溫度和濕度應(yīng)力測(cè)試 - HAST)
JESD22-A118 (無(wú)偏壓高加速溫度和濕度應(yīng)力測(cè)試 - UHAST)
JESD22-A102 (高壓蒸煮試驗(yàn) - PCT)
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) (GB):
GB/T 2423.40 (環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx: 穩(wěn)態(tài)濕熱)
汽車(chē)電子領(lǐng)域 (AEC):
AEC-Q100 (基于集成電路應(yīng)力測(cè)試的失效機(jī)理)
AEC-Q101 (分立半導(dǎo)體器件應(yīng)力測(cè)試資質(zhì))
選擇HAST,不僅是選擇一臺(tái)設(shè)備,更是選擇一種預(yù)防性質(zhì)量文化——在故障發(fā)生之前行動(dòng),在用戶投訴之前解決,在產(chǎn)品上市之前確保產(chǎn)品可靠性。讓我們幫助您,把可靠性設(shè)計(jì)進(jìn)產(chǎn)品的每一個(gè)細(xì)節(jié)中。
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