HAST高壓老化箱 非飽和蒸汽測(cè)試 配置參數(shù)的生產(chǎn)廠家，東莞市皓天試驗(yàn)設(shè)備有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品

什么是HAST測(cè)試

HAST，即高度加速應(yīng)力測(cè)試，是一種通過模擬嚴(yán)苛高溫、高濕及高壓環(huán)境，加速材料老化過程的試驗(yàn)方法。

試驗(yàn)箱內(nèi)部溫度可調(diào)節(jié)范圍達(dá)105℃至143℃，相對(duì)濕度60%至百%，壓力高可達(dá)0.2MPa表壓。這些參數(shù)可根據(jù)測(cè)試需求精細(xì)調(diào)控。

非飽和高壓環(huán)境是HAST的核心特點(diǎn)。與傳統(tǒng)的飽和蒸汽老化試驗(yàn)不同，非飽和環(huán)境能更有效地模擬實(shí)際濕熱條件，避免因表面結(jié)露導(dǎo)致的局部過度老化。

試驗(yàn)過程中，溫濕度均勻度可控制在≤±2℃、≤±5%RH的范圍內(nèi)，確保所有樣品處于一致的老化環(huán)境中。

溫度范圍：100C~145℃(飽和蒸氣溫度)

溫度波動(dòng)度：0.5℃

溫度均勻度：2℃

應(yīng)用領(lǐng)域

HAST試驗(yàn)機(jī)是提升電子產(chǎn)品可靠性的通用工具，廣泛應(yīng)用于：

半導(dǎo)體與微電子：車規(guī)級(jí)芯片、IC封裝、MOSFET、存儲(chǔ)器、傳感器等。

電子元器件：PCB/PCBA、LCD模組、連接器、電容、電阻、磁性材料、光電組件（LED、光伏）。

新材料研發(fā)：高分子材料、復(fù)合絕緣材料、封裝膠（如EVA）、特種涂料等耐濕熱老化性能評(píng)估。

制造：航空航天電子設(shè)備、通信設(shè)備等可靠性要求很高的領(lǐng)域。

支持的可靠測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

我們的設(shè)備設(shè)計(jì)與制造嚴(yán)格遵循國(guó)際及國(guó)內(nèi)主流可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，確保您的測(cè)試數(shù)據(jù)在地球范圍內(nèi)獲得認(rèn)可：

IEC：IEC 60068-2-66 (試驗(yàn)Cx), IEC 60749

JEDEC：JESD22-A110 (HAST), JESD22-A118 (無偏壓HAST/UHAST), JESD22-A102 (PCT)

國(guó)標(biāo)：GB/T 2423.40

汽車電子：AEC-Q100/Q101

行業(yè)評(píng)價(jià)方法：支持如《復(fù)雜組件封裝關(guān)鍵結(jié)構(gòu)壽命評(píng)價(jià)方法》（T/CIE 143-2022）等標(biāo)準(zhǔn)中提及的加速壽命試驗(yàn)要求。

HAST高壓老化箱 非飽和蒸汽測(cè)試 配置參數(shù)

工作原理簡(jiǎn)述

HAST試驗(yàn)的核心原理是利用非飽和高壓蒸汽（溫度高于100℃，相對(duì)濕度低于100%）的高能量狀態(tài)，極大加速水汽向產(chǎn)品內(nèi)部的滲透和擴(kuò)散過程。

環(huán)境建立：首先，設(shè)備將試驗(yàn)箱內(nèi)溫度升至遠(yuǎn)高于100℃（如130℃），同時(shí)通過蒸汽發(fā)生與壓力控制，在箱內(nèi)建立對(duì)應(yīng)的壓力（如0.2MPa以上）和預(yù)設(shè)的非飽和濕度環(huán)境。

加速應(yīng)力：在此環(huán)境下，水分子具有T很高的動(dòng)能和滲透力，能迅速穿透高分子材料、封裝縫隙或微小缺陷，抵達(dá)芯片、線路等核心部位。

誘發(fā)失效：水汽與金屬離子結(jié)合，在電場(chǎng)（若施加偏壓）和高溫的共同作用下，誘發(fā)電化學(xué)腐蝕、枝晶生長(zhǎng)、絕緣電阻下降等失效模式，從而在幾十到幾百小時(shí)內(nèi)模擬出戶外數(shù)年才能發(fā)生的故障。